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HAWK　3軸非接触測定顕微鏡

ヴィジョン・エンジニアリングのホークは、高精度３軸非接触測定顕微鏡です。
モジュール方式を採用し、アプリケーションに応じたシステム構築が可能です。
高解像、高コントラストの光学像により迅速かつ容易に信頼性の高い高精度測定が行えます。

ホークは、使いやすさを追求し、一般的な品質管理での高精度測定用として開発されました。
卓越した精度、繰返し精度、再現精度を実現し、また像の取込、ビデオ・エッジ・ディテクション（VED）など豊富なオプションが選択できます。

優れた光学性能

高精度の非接触光学測定には、高解像、高コントラストの光学イメージと精度の高い測定ステージが不可欠です。

ホークはヴィジョン・エンジニアリングの特許ダイナスコープ　テクノロジーを採用し、迅速でシンプルな測定に必要な鮮明度の高い光学像を提供します。
また、測定作業と同時に外観検査も可能です。

デジタル化された画像システムの像と違い、ホークの光学像は全く加工や処理のされておらず、信頼性の高い測定ができます。

高精度測定ステージ

ホークでは最大４００ｍｍ ｘ ３００ｍｍまでの高精度測定ステージが用意されています。測定ステージの固定誤補正には、非線誤差補正（NLEC）が採用されています。
ISO9000のためのトレーサビリティーは国立物理研究所（NPL）、NAMAS、NISTが認定機関となっています。
０．５μｍ分解能エンコーダの場合、繰返精度は２μｍで測定可能です。

データ処理装置

円、角度、線、距離などの測定ができるコンパクトで操作が簡単なデータ処理装置を採用。
X,Y,Zの座標値、測定データとグラフィックが表示され、シリアルポートからパソコンやプリンタへのデータの出力も可能です。

オプション＆アクセサリー

照明は標準の調光ディマー付の反射と透過の他に、６点リング照明、鏡面や深い穴の中の測定用にEPI(同軸照明)が選択できます。
レンズは、１０ｘ、２０ｘ（標準）、５０ｘ、１００ｘのマクロ仕様と高倍率の４穴ターレットに装着する５０ｘ、１００ｘ、２００ｘ、５００ｘが用意されています。

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  透過照明

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  反射照明

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  反射・透過照明