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KESTREL　2次元測定システム

ヴィジョン・エンジニアリングのケストレルは、２次元測定システムです。
ケストレルは、高解像、高コントラストの光学像とパワフルなデータ処理装置の組み合わせで、シンプルな形状から複雑な形状部品の測定ができるフレキシブルな測定システムです。
優れた光学像でコントラストが低くエッジがとりづらい黒や白の部品でも容易に測定できます。

ケストレルは誰にでも簡単に精密測定が出来るよう設計され、特に製造現場には最適です。
高精度で低価格を実現した画期的な測定システムです。

優れた光学性能

高精度の非接触光学測定には、高解像、高コントラストの光学イメージと精度の高い測定ステージが不可欠です。

ケストレルはヴィジョン・エンジニアリングの特許ダイナスコープ　テクノロジーを採用し、迅速でシンプルな測定に必要な鮮明度の高い光学像を提供します。
また、測定作業と同時に外観検査も可能です。

デジタル化された画像システムの像と違い、ケストレルの光学像は全く加工や処理がされておらず、信頼性の高い測定ができます。

オプション＆アクセサリー

照明は標準の調光ディマー付の反射と透過の他に、鏡面や深い穴の中の測定用にEPI(同軸照明)が選択できます。
レンズは、１０ｘ、２０ｘ（標準）、５０ｘ、が用意されています。

データ処理装置

ケストレルは１５０ｍｍ ｘ １００ｍｍの測定ステージを持ったコンパクトな２軸測定システムです。
ケストレル２００には、使いやすいQC-200データ処理装置が標準装備されています。

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  透過照明

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  反射照明

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  反射・透過照明

ケストレルにはオプションでデジタルカメラの取付もできます。

高精度測定ステージ

１５０ｍｍ ｘ １００ｍｍ測定ステージはアルミニウム製３層構造で、測定ステージの固定誤補正には、非線誤差補正（NLEC）が採用されています。
ISO9000のためのトレーサビリティーは国立物理研究所（NPL）、NAMAS、NISTが認定機関となっています。
１μｍ分解能エンコーダを使用し、繰返精度は５μｍ以内で測定可能です。

データ処理装置

データ処理装置は QC-200 が標準装備されています。
QC-200はコンパクトで使いやすい２軸カウンタ・幾何学計算ソフトウェアからなり、測定形状のグラフィック表示もでき測定データのプリントや外部出力も可能です。